นโยบายการจัดการความรู้ มหาวิทยาลัยสงขลานครินทร์ 1.ให้ใช้เครื่องมือการจัดการความรู้ผลักดัน คุณภาพคน และกระบวนทำงาน 2.ส่งเสริมการแลกเปลี่ยนประสบการณ์การทำงาน จากหน้างาน 3.ส่งเสริมให้มีเวทีเรียนรู้ร่วมกัน

Zenki
Ico64
นาย พรพจน์ หนูทอง
นักวิทยาศาสตร์
ศูนย์เครื่องมือวิทยาศาสตร์
เครือข่าย
สมาชิก · ติดตาม: 0 · ผู้ติดตาม: 2

อ่าน: 991
ความเห็น: 0

ทันเทคโนโลยีและเครื่องมือวิจัย

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) เป็นหนึ่งในเครื่องมือวิจัยฯ ที่มีอัตราการใช้งานสูงเครื่องหนึ่งของศูนย์เครื่องมือฯ โดยมีจำนวนผู้ใช้บริการและจำนวนตัวอย่างเพิ่มสูงขึ้นอย่างต่อเนื่องทุกปี ติดอันดับเครื่องมือวิจัยฯที่มีผลการดำเนินงานเยี่ยมด้านจำนวนลูกค้าและสร้างรายได้อยู่ในอันดับ 1 ถึง 5 ของทุกเดือน และเป็นเครื่องมือที่มีต้นทุนวัสดุสิ้นเปลืองต่ำ รวมทั้งมีวิศวกรประจำเครื่องคอยดูแลอย่างใกล้ชิด จึงทำให้เครื่องมือสามารถให้บริการได้อย่างต่อเนื่อง

 

เมื่อสัปดาห์ที่ผ่านมา หลังจากเข้าร่วมฟังสัมมนาในหัวข้อ New Electron Microscopy Technology ได้รับความรู้ดีๆมากมายกลับมาจาก Specialist ด้าน Electron Microscopy โดยเทคโนโลยีที่บริษัทนำมาใช้สัมมนานั้น เป็นผลิตภัณฑ์จากค่าย FEI ซึ่งเป็นหนึ่งในบริษัทชั้นนำทางด้านนี้ และศูนย์เครื่องมือฯเองของเป็นหนึ่งในลูกค้าที่ใช้ผลิตภัณฑ์จากค่ายนี้ด้วย นั้นก็คือ กล้อง (SEM รุ่น Quanta400)

 

ด้วยความก้าวหน้าอย่างรวดเร็วของเทคโนโลยีด้าน Electron Microscopy จึงไม่แปลกใจเลย ทำไมหลายปีมานี้ ความสามารถของกล้อง SEM และ TEM จึงเพิ่มสูงขึ้นอย่างมาก เหตุผลสำคัญก็คือ ความต้องการวัดและวิเคราะห์ขั้นสูงที่ซับซ้อนของนักวิจัย เป็นแรงผลักดันให้เกิดการค้นคว้าวิจัยและพัฒนาเครื่องมือจากบริษัทผู้ผลิตเครื่องมือ เพื่อสามารถตอบสนองและแก้ปัญหาในงานวิจัยเฉพาะด้านได้ และพระเอกของงานสัมมนานี้ ในความคิดส่วนตัวผม ก็คือ DualBeam

 

จากประสบการณ์ที่ผ่านมาในการให้บริการทดสอบตัวอย่างทางด้าน Electron Microscopy นั้น โดยเฉพาะกล้อง SEM ผมคิดว่าปัจจัยสำคัญที่ช่วยทำให้การบริการสัมฤทธิ์ผลและมีคุณภาพนั้น นอกจากการมีเครื่องมือที่ดีมีประสิทธิภาพสูง พร้อมใช้งานแล้ว เรื่องของเทคนิคการเตรียมตัวอย่างก็เป็นสิ่งสำคัญ หากเตรียมได้ไม่ดี นั่นหมายถึง ความล้มเหลวการผลการทดสอบ ที่รอคอยการเกิดขึ้นอยู่ภายหน้าแล้ว

 

แม้ว่าจะรู้ซึ้งถึงความสำคัญของการเตรียมตัวอย่างก็ตาม แต่เรื่องเหล่านี้เป็นเรื่องของประสบการณ์ที่ผ่านการเรียนรู้และฝึกฝนมานาน และหัวหน้าหรือพี่เลี้ยงท่านนั่นล่ะครับ ที่ช่วยท่านได้ คำแนะนำและเทคนิคต่างๆที่ช่วยให้ผ่านช่วงเวลาวิกฤตได้มาแล้วหลายครั้ง แต่เหลือเชื่อนะครับ การเตรียมตัวอย่างบางกรณีที่ว่ายากและซับซ้อนนั้น เราสามารถทำได้ง่ายและใช้เวลาน้อยกว่าอย่างมาก แถมยังให้ผลที่ดีมีคุณภาพมากกว่า ซึ่งเจ้า DualBeam ที่กล่าวถึงตอนต้นนั่นล่ะครับ ที่ทำให้ชีวิตง่ายขึ้นเยอะ

 

DualBeam เป็นอีกเทคนิคหนึ่ง ที่ใช้ร่วมกับเทคนิค SEM ในการวิเคราะห์ทดสอบตัวอย่างทางด้านวัสดุ โดยเฉพาะการศึกษาลักษณะโครงสร้างของวัสดุ ชื่อก็บอกชัดว่า เกี่ยวข้องกับลำแสง 2 ชนิด ซึ่งโดยปกติการทดสอบด้วย SEM จะใช้เพียงลำแสงเดียว นั่นก็คือ ลำแสงอิเล็กตรอน หรือ electron beam แต่หากเป็น DualBeam กล้อง SEM เครื่องนั้น ก็จะมีลำแสงเพิ่มขึ้นมาอีกชนิด ก็คือ Focused Ion Beam (FIB) ทำหน้าที่เป็นลำแสงเปิดผิวหน้าตัวอย่าง เพื่อศึกษาดูโครงสร้างภายใน ดังนั้นเราไม่ต้องนำตัวอย่างออกตัด เลื่อย หัก ฉีก หรือเตรียมด้วยสารพัดวิธี เพื่อเปิดโครงสร้างภายในออกมา

 

และหากใช้ DualBeam ร่วมกับ TEM ก็ยิ่งเห็นประโยชน์เพิ่มมากขึ้น ซึ่งโดยปกติการเตรียมตัวอย่างทางด้านวัสดุ จะต้องใช้เวลามากกว่า 2 วัน ตั้งแต่ Cutting, Polishing จนกระทั่ง Milling ด้วยเครื่อง Ion beam milling จนได้ตัวอย่างที่บางพอสำหรับการทดสอบ TEM แต่เมื่อแทนที่ด้วย DualBeam การเตรียมที่ยุ่งยากซับซ้อนเหล่านั้นก็สั้นและง่ายขึ้น ทำทุกอย่างภายในเครื่องเสร็จจนกระทั่งได้ภาพถ่ายออกมา

 

นี่ล่ะครับเทคโนโลยีที่ก้าวล้ำหน้าทางด้าน Electron Microscopy ซึ่งกว่าจะได้มาซึ่งเทคนิคการวิเคราะห์และทดสอบเหล่านี้ จำเป็นต้องลงทุนสูง ความคุ้มค่าและความจำเป็นในการใช้งาน จึงเป็นสิ่งที่ต้องพิจารณาและทบทวนอย่างถี่ถ้วน

หมวดหมู่บันทึก: PSU.Quality Work Life
สัญญาอนุญาต: ซีซี: แสดงที่มา-ไม่ใช้เพื่อการค้า-อนุญาตแบบเดียวกัน Cc-by-nc-sa
สร้าง: 05 กรกฎาคม 2557 00:42 แก้ไข: 05 กรกฎาคม 2557 00:42 [ แจ้งไม่เหมาะสม ]
ดอกไม้
สมาชิกที่ให้กำลังใจ: Ico24 LeeO, Ico24 คนธรรมดา, และ 4 คนอื่น.
สมาชิกที่ให้กำลังใจ
 
Facebook
Twitter
Google

บันทึกอื่นๆ

ความเห็น

ไม่มีความเห็น

ร่วมแสดงความเห็นในหน้านี้

ชื่อ:
อีเมล:
IP แอดเดรส: 3.88.220.93
ข้อความ:  
เรียกเครื่องมือจัดการข้อความ
   
ยกเลิก หรือ